把握宏观脉络 洞悉行业趋势
GRASP THE MACRO CONTEXT INSIGHT INTO INDUSTRY TRENDS
自动测试设备技术工艺发展趋势分析
第一节 产品技术发展现状
在目前的自动测试设备厂商中，有名的供应商有：爱德万（Advantest）、泰瑞达（Teradyne）、安捷伦（Agilent）和横河（Yokogawa）恩普科技（NPTest）、科利登（Credence）等，现在科利登已收购恩普科技。
现在这些自动测试设备公司的产品平台不同，编程语言也不同。同一家公司在产品升级换代时也可能有很大的变化。
在产品上市时间逐渐缩短时，用户却要花更多时间重新学习和熟悉新的测试系统，这不是 市场发展 的规律。为了降低研发费用和设备成本，同时加快客户的测试周期，各大公司都在探索着各种不同的技术路线和架构。
Credence认为Sapphire系统将是未来ATE的主导技术之一，“Sapphire是一种全新的概念，系统的每个板有32个槽，可通过板的调整实现单一系统测试从少管脚产品到多管脚，速度从200M、400M、800M到1600M的测试。”Credence 正是希望通过这一架构降低SOC测试的门槛，同时由于产品升级时不需要更换平台，将会降低用户未来的成本。
与用户共建 行业 标准也是一条技术路线。其中半导体测试联盟(STC)为ATE设计的Openstar开放式架构就受到了Advantest、Intel和Motorola等厂商的支持。而这一 行业 组织的目的也是为了产品的标准化，使厂商能够为测试设备开发“即插即用”模块，降低IC测试成本。
Advantest的SOC测试系统T2000是基于Openstar架构的第一台测试系统，它已在测试市场赢得了多项定单。
Teradyne的OpenFLEX平台对架构的概念有不同的定义。允许第三方在Teradyne的平台上建立自己的产品。IC设计者和制造者都是半导体ATE的用户，虽然设计者的用量少，可能一家公司只需拥有一台，但成熟的设计一旦量产，就可能对测试有大量的需求，而促使制造者的大量购买。
第二节 产品工艺特点或流程
自动测试设备工艺流程
第三节 国内外技术未来发展趋势 分析
1、高端器件的测试设备技术将成为开发热点
随着器件复杂性的提高、速度的提升和管脚数增加，新型SOC器件层出不穷，而针对高端芯片的自动测试设备的技术研发会成为未来各厂商开发的热点。另外，尽可能降低测试的成本，特别是位于高端的SOC等器件的测试，已成为各大ATE厂商竞争的焦点。
2、通用自动测试设备势在必行
通用自动测试设备是一个向模块化、系列化、标准化方向发展的自动化测试设备。该测试设备可以不是针对某一型电子产品的。它适用于各类电子产品，无论是已有的产品还是新开发的产品，该设备都能发挥极大的作用
随着我国电子设备的发展和科学技术的进步，检测设备功能越来越强，结构越来越复杂，传统的专用检测设备难以满足要求，为了保证复杂电子系统的稳定性和可靠性，同时实现检测设备的通用、统一，采用通用的自动测试设备已势在必行。
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